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日置LCR测试仪IM3523

  • 型   号:IM3523
  • 价   格:

日置LCR测试仪IM3523 基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
内置比较器和BIN功能
2毫秒的快速测试时间

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日置LCR测试仪IM3523 现货优势 价格优惠 欢迎咨询!

 基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
内置比较器和BIN功能
2毫秒的快速测试时间

日置LCR测试仪IM3523基本参数
测量模式LCR,连续测试
测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为最高分辩率时的显示位数)
 只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
测量信号电平正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
输出阻抗正常模式:100Ω
显示单色LCD
测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能比较器,分类测量(BIN功能),节点负载/补偿,记忆功能
接口EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源100~240V AC,50/60Hz,最大50VA
尺寸及重量260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

日置LCR测试仪IM3523

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