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日置LCR测试仪IM3536

更新时间:2019-10-12

简要描述:

日置LCR测试仪IM3536 测量频率DC,4Hz~8MHz
测量时间:Z快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中

型号:IM3536点击量:351

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日置LCR测试仪IM3536

  • 测量频率DC,4Hz~8MHz
  • 测量时间:zui快1ms
  • 基本精度:±0.05% rdg
  • 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
  • 可内部发生DC偏压测量
  • 从研发到生产线活跃在各种领域中
DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品
  •  

 

主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。
日置LCR测试仪IM3536基本参数

 

测量模式LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

测量参数

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)
显示范围Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)
测量频率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) 
[CC模式]的[通常模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示彩色TFT5.7英寸,触摸屏
功能比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

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